เครื่องวัดความเรียบผิว : Flatness Tester ที่ทีมวิจัย ฝ่ายมาตรวิทยามิติ มว. ผลิตขึ้นมานี้ สามารถวัดชิ้นงานที่มีความเรียบตั้งแต่ 20 นาโนเมตร ถึง 2 ไมโครเมตร และมีความถูกต้อง ? 40 นาโนเมตร และสามารถใช้วัดชิ้นงานที่ทำจากวัสดุต่างๆ ไม่ว่าจะเป็นแก้ว เซรามิค หรือโลหะ ใช้โปรแกรมคอมพิวเตอร์ในการวิเคราะห์ จึงใช้งานง่าย ผู้ใช้ไม่จำเป็นต้องมีประสบการณ์ หรือทักษะพิเศษ ดังนั้น ผลการวัดจึงไม่มีความผิดพลาดที่เกิดขึ้นจากผู้ใช้งาน โดยสามารถนำมาใช้ในการสอบเทียบออพติคอลแฟลต และออพติคอลพาราแลล แทนเครื่องแฟลตเนสอินเตอร์ฟีรอมิเตอร์ที่ต้องนำเข้าจากต่างประเทศ ที่มีราคาสูงกว่า 2 ล้านบาท โดยออพติคอลแฟลต จะใช้ในการตรวจสอบความเรียบผิวของชิ้นงานอย่างเกจบล็อก ส่วนออพติคอลพาราแลล จะใช้ในการตรวจสอบความเรียบและความขนานของไมโครมิเตอร์ ซึ่งไมโครมิเตอร์ เป็นเครื่องมือวัดละเอียดชนิดหนึ่ง และเกจบล็อก เป็นอุปกรณ์ที่ใช้ในการสอบเทียบเครื่องมือวัดส่วนใหญ่ในสาขามิติ ที่มีใช้กันอย่างแพร่หลายในโรงงานอุตสาหกรรมที่ต้องมีการวัดขนาดชิ้นงานทุกประเภท อาทิ อุตสาหกรรมยานยนต์ อุตสาหกรรมการผลิตชิ้นส่วน อะไหล่ต่างๆ เป็นต้น
ในปัจจุบัน มว. ได้ผลิตและเริ่มจำหน่ายเครื่องวัดความเรียบผิว : Flatness Tester ให้กับภาคอุตสาหกรรมในราคา 200,000 บาท โดยผู้สนใจสามารถติดต่อสอบถามรายละเอียดเพิ่มเติมได้ที่ ฝ่ายมาตรวิทยามิติ โทรศัพท์
02 577 5100 ต่อ 1216
ผู้เขียนข่าว/ผู้ประสานงาน นายประสิทธิ์ บุบผาวรรณา / นางสาววัชรีพร กลิ่นขจร
เบอร์โทรศัพท์ 02 577 5100 ต่อ 4226 -7 เบอร์แฟกซ์ 02 577 2823 อีเมลล์ pr@nimt.or.th
เผยแพร่ข่าวโดย : นางสาวศิริลักษณ์ สิกขะบูรณะ
กลุ่มงานประชาสัมพันธ์
สำนักงานปลัดกระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี
โทรศัพท์ 0 2333 3700 ต่อ 3727 - 3732 โทรสาร 0 2333 3834
e-mail : pr@most.go.th
Facebook : sciencethailand
ที่มา: http://www.thaigov.go.th